来源:精密光谱科学与技术国家重点实验室

【校级报告】光频梳光谱编码成像技术及其应用

来源:精密光谱科学与技术国家重点实验室发布时间:2024-06-21浏览次数:10

报告题目:光频梳光谱编码成像技术及其应用

报告人:朱志伟 博士

报告人单位:香港中文大学

主持人:李文雪 研究员

时间:2024624(周一)10:30-11:30

地点:闵行校区光学大楼A508会议室

报告人简介:

朱志伟,博士,香港中文大学博士后。主要从事超快光纤激光器技术、高性能光频梳系统、高速光频梳形貌检测技术等方面的研究。已在Chaos Solitons & FractalsOptics LettersOptics Express等重要学术期刊和会议上发表高水平论文40余篇,被引400余次,部分工作被Optics Letters主编选为亮点工作(Editor’s pick)。

报告摘要:

表面形貌检测是工业生产和科学研究不可或缺的关键技术之一,尽管现有技术已得到长足的发展,但同时实现高精度、高速度和大范围的测量仍面临巨大挑战。光频梳不仅具有可靠的性能,且天然地具备多信道复用、实现超高速并行光学探测的基础。本报告将系统性介绍团队在光频梳光谱编码成像技术及其应用方面的研究进展。特别地,团队所研发的二维时空编码技术,利用单腔双光梳光源,以无扫描模式可实现优于每秒七百万像素的三维成像速度。基于光频梳的新型表面形貌检测技术,有望为高质量纳米加工、芯片设计制造等科研和生产应用提供新的机遇。