Development of SI traceable radio-frequency electric-field metrology standard

报告题目：Development of SI traceable radio-frequency electric-field metrology standard

报告人：宋振飞  博士/副研究员

主持人：盛继腾  研究员

时间：1月23日（周三）下午3:30

地点：理科大楼A814会议室

主办单位：精密光谱科学与技术国家重点实验室

报告摘要：

Accurate electromagnetic field sensing is of great importance and necessity for exploring new materials, developing electronic devices and investigating electromagnetic effects. Ideally, radio-frequency (RF) field measurements should be directly linked to SI units with low intrusion, high sensitivity, wide dynamic range and low uncertainty. The current state-of-the art is far short of this goal. It has been proved that quantum coherence effects in highly-excited Rydberg atoms could provide a revolutionary solution for RF field measurement，the field strength can be directly linked to the measured Autler-Townes (AT) splitting and Planck’s constant. Some recent progress and interesting applications will be presented, including the development of self-traceable quantum RF E-field and power standards, atomic communication. The measurement uncertainty evaluation and the main measurement error effects will be discussed as well.

报告人简介：

宋振飞，博士，副研究员。2006年毕业于山东大学物理学院，2012年获北京航空航天大学电子科学与技术博士学位，现就职于中国计量科学研究院前沿计量科学中心。

宋振飞于2009年至2011年在法国高等电力工程师学校（ESIGELEC）公派留学，2015年2月至6月在英国国家物理实验室（NPL）做访问学者。目前主要研究方向为微波电磁场精密测量，包括基于里德堡原子的微波量子基准研制。先后承担国家自然科学基金精密测量重大研究计划项目、国家重点研发计划各一项，负责建立我国第一套微波天线测量国家标准装置。累计发表SCI论文十余篇。